ICP光谱仪原理是什么？
ICP光谱仪又称分析仪，广泛为认知的为直读ICP光谱仪。以光电倍增管等光探测器测量谱线不同波长位置强度的装置。它由一个入射狭缝，散系统，一个成像系统和一个或多个出射狭缝组成。以色散元件将辐射源的电磁辐射分离出所需要的波长或波长区域，并在选定的波长上(或扫描某一波段)进行强度测定。分为单色仪和多色仪两种。
ICP光谱仪的工作原理：
根据现代ICP光谱仪器的工作原理，ICP光谱仪可以分为两大类：经典ICP光谱仪和新型ICP光谱仪。经典ICP光谱仪器是建立在空间色散原理上的仪器;新型ICP光谱仪器是建立在调制原理上的仪器。经典ICP光谱仪器都是狭缝ICP光谱仪器。调制ICP光谱仪是非空间分析的，它采用圆孔进光。根据色散组件的分析原理，ICP光谱仪器可分为：棱镜ICP光谱仪，直读ICP光谱仪，衍射光栅ICP光谱仪和干涉ICP光谱仪。
光学多道分析仪OMA是近十几年出现的采用光子探测器(CCD)和计算机控制的新型光谱分析仪器，它集信息采集，处理，存储诸功能于一体。
由于OMA不再使用感光乳胶，避免和省去了暗室处理以及之后的一系列繁琐处理，测量工作，使传统的光谱技术发生了根本的改变，大大改善了工作条件，提高了工作效率;使用OMA分析光谱，测量准确迅速，方便，且灵敏度高，响应时间快，光谱分辨率高，测量结果可立即从显示屏上读出或由打印机，绘图仪输出。它己被广泛使用于几乎所有的光谱测量，分析及研究工作中，特别适应于对微弱信号，瞬变信号的检测。
ICP光源观察方式
双向观测：双向观测是在水平观测ICP光源的基础，增加一套侧向采光光路，实现垂直/水平双向观测，即在炬管垂直观测的方向依次放置3块反射镜，当要使用垂直观测的时候，就通过3块反射镜把炬管垂直方向上的光反射到原光路中，并通过旋转原光路的块反射镜，使垂直方向来的光与原水平方向来的光在整个光路中重合。该观测方式的切换反射镜由计算机控制，该方式融合了轴向、径向的特点，具有一定的灵活性，增强了测定复杂样品的能力。改观测方式可实现以下3中方式的测量：
①全部元素谱线水平测量。
②全部元素谱线垂直测量。
③部分元素谱线水平测量，部分元素谱线垂直测量。
双向观测能有效解决水平观测中存在的电子干扰，进一步扩宽线性范围。但是该观测方式需要不断地切换反射镜，可 能导致仪器的稳定性变差。由于径向观测的需要，炬管侧面必须开口，直读ICP光谱仪多少钱，导致炬管的寿命大大降低，同时也改变了炬焰的形状。炬管开口处必须严格与光路对准，要不然炬管壁容易积累盐，会使检测结果严重错误;同时如果在开口出现积盐同样也会导致仪器检测结构存在严重的错误，直读ICP光谱仪厂家，必须注意清洗。而且增加了曝光次数，降低了分析速度，直读ICP光谱仪价格，增加了分析消耗。
ICP发射光谱常见问题
1、影响等离子体温度的因素有： 载气流量：流量增大，中心部位温度下降; 载气的压力：激发温度随载气压力的降低而增加; 频率和输入功率：激发温度随功率增大而，近似线性关系，在其他条件相同时，增加频率，放电温度降低; 第三元素的影响：引入低电离电位的释放剂(如T1)的等离子体，电子温度将增加。
2、电离干扰的消除和抑制 原子在火焰或等离子体的蒸气相中电离而产生的干扰。它使火焰中分析元素的中性原子数减少，因而降低分析信号。在标准和分析试样中加入过量的易电离元素，使火焰或等离子体中的自由电子浓度稳定在相当高的水平上，从而抑制或消除分析元素的电离。此外，由于温度愈高，电离度愈大，因此，降低温度也可减少电离干扰。
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